Paweł Uznański
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Molecular Organization in Pentacene Thin Film on SiO2 Surface Using Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Atomic Force Microscopy Published in: Bulletin de la Société des Science et des Lettres de Łódź. Serie: Recherches sur les Déformations 2016 / Tom 66 / Numer 1 / p. 103 - 1222016Plain Text
Ewelina Z. Frątczak, Paweł Uznański, Molecular Organization in Pentacene Thin Film on SiO2 Surface Using Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Atomic Force Microscopy , Bulletin de la Société des Science et des Lettres de Łódź. Serie: Recherches sur les Déformations, 2016 / Tom 66 / Numer 1, s. 103 - 122
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