Paweł Uznański

1 artykuły w 1 czasopismach

• Molecular Organization in Pentacene Thin Film on SiO2 Surface Using Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Atomic Force Microscopy Opublikowano w: Bulletin de la Société des Science et des Lettres de Łódź. Serie: Recherches sur les Déformations 2016 / Tom 66 / Numer 1 / s. 103 - 122

  2016

  Ewelina Z. Frątczak Paweł Uznański

  Zacytuj Udostępnij
  CZYSTY TEKST

  Ewelina Z. Frątczak, Paweł Uznański, Molecular Organization in Pentacene Thin Film on SiO2 Surface Using Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Atomic Force Microscopy , Bulletin de la Société des Science et des Lettres de Łódź. Serie: Recherches sur les Déformations, 2016 / Tom 66 / Numer 1, s. 103 - 122

  pobierz cytat

  BIBTEX

  @Article{ authors = " Ewelina Z. Frątczak, Paweł Uznański", title = "Molecular Organization in Pentacene Thin Film on SiO2 Surface Using Spectroscopic Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, and Atomic Force Microscopy ", journal = "Bulletin de la Société des Science et des Lettres de Łódź. Serie: Recherches sur les Déformations", issue = "2016 / Tom 66 / Numer 1", pages = "103 - 122" }

  pobierz cytat